在老化測試座環(huán)節(jié)中，獨特老化主板上的組件將承擔相當于或大于其額定值工作性質(zhì)壓力，以解決一切在額定值使用壽命以前太早無效的構件。這種測試標準包含溫度、工作電壓/電流量、輸出功率或任何其他特定為最大值的測試標準。這種種類壓力測試有時候稱之為加快使用壽命測試（HALT/HASS一個子集合)，因為它仿真模擬部件在極端化情況下的長期運作。

在老化測試座的基本原理中，大部分半導體元器件的事例都是有初期常見故障或故障風險性，這將會減少其處理芯片使用壽命。老化測試座可用于明確部件在這樣一個重要的初期階段的穩(wěn)定性，以確保電源電路進入一個更高效的長期性階段。老化系統(tǒng)軟件能使系統(tǒng)在不斷攀升的電流和溫度下運作，進而在短期內(nèi)開啟工作電壓和溫度常見故障體制。盡管預燃測試很有可能有益于偽劣產(chǎn)品的挑選，但是由于特性要求的嚴重后果，成本費也會隨著機器的多元性和所需要的預燃時長而變化。

在電子元器件中，最常見老化測試座水準一般是芯管水準、外包裝能力和單晶硅片水準老化。這種名字是指測試新產(chǎn)品的生產(chǎn)制造階段，每一個階段都會給廠家產(chǎn)生各種各樣益處。因此有很多人一直在尋找“已經(jīng)知道符合要求的測試射頻連接器”，即測試射頻連接器具備穩(wěn)定性和實效性，還可以在老化測試座中開發(fā)設計優(yōu)化策略。在處理芯片的差異生產(chǎn)制造階段，這一測試射頻連接器有著不同的老化測試座座來配對，如單晶硅片，可以用信用卡；比如，處理芯片，不一樣產(chǎn)品的包裝有著不同的外包裝老化測試座坐椅，QFP老化實驗座，QFN老化實驗座等。老化實驗是提升和減少初期設備故障率的一種方法。根據(jù)老化實驗能夠檢測出半導體材料里的潛在性缺點。當機器設備增加的電流地應力和加溫運行時，潛在性缺點越來越明顯。大部分初期常見故障主要是因為應用有瑕疵的生產(chǎn)制造材料及生產(chǎn)制造階段錯誤所造成的。根據(jù)老化實驗，僅有初期設備故障率低構件才可以投入市場。

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