老化座在芯片封裝前的老化測試工作小知識-老化測試座

老化座在芯片封裝前的老化測試工作小知識-老化測試座-昆山優(yōu)力技鑫測試座

伴隨著電子產(chǎn)品升級換代速度加速，消費(fèi)者對于產(chǎn)品的苛刻不單單是產(chǎn)品外觀，對電子產(chǎn)品內(nèi)在品質(zhì)、可靠性有了眾多規(guī)定。而芯片在電子產(chǎn)品中好似心血管一般是至關(guān)重要的。一顆芯的好與壞，直接關(guān)系著電子產(chǎn)品的使用期。因此，現(xiàn)今芯片在封裝形式好在出廠前，芯片生產(chǎn)商都還會(huì)繼續(xù)開展周密的溫度加快老化和HAST的溫度濕度老化測試。

老化HTOL【High Temperature Operating Life】，便是高溫下加快芯片老化，隨后估計(jì)芯片使用壽命。也有HAST【Highly Accelerated Stress Test】測試芯片封裝形式的耐濕水平，待測產(chǎn)品被放置嚴(yán)格的溫度、環(huán)境濕度及壓力之下測試，體內(nèi)濕氣會(huì)不會(huì)沿者膠體溶液或溶液與導(dǎo)線架之插口滲透到封裝形式體進(jìn)而毀壞芯片。

芯片老化座在芯片的HTOL和HAST老化實(shí)驗(yàn)起到重要作用。它可以幫助芯片在嚴(yán)格的測試條件下非常好的觸碰，進(jìn)而進(jìn)行測試工作中。昆山優(yōu)力技鑫的IC老化座，在老化座銷售市場具備非常高的市場占有率。不管是價(jià)錢或是產(chǎn)品的多樣化上，全是顧客的不二之選?，F(xiàn)階段，我們自己的IC老化座，對于目前市面上的統(tǒng)用基本型IC，會(huì)使用現(xiàn)貨交易的出模彈簧片制作。而對于非傳統(tǒng)類芯片的老化測試，可以使用探頭的形式.一切認(rèn)為平穩(wěn)測試、控制成本為基本服務(wù)宗旨。

昆山優(yōu)力技鑫機(jī)械是一家集生產(chǎn)加工、經(jīng)銷批發(fā)測試座的企業(yè)，專注于：測試座、振蕩器測試座、傳感器測試座、老化測試座、燒錄座、晶振測試座、IC測試座、BGA測試座、QFN測試座等測試座領(lǐng)域。