老化測(cè)試座：老化測(cè)試預(yù)測(cè)未來(lái),驗(yàn)證設(shè)備的壽命及可靠性

老化測(cè)試座：老化測(cè)試預(yù)測(cè)未來(lái),驗(yàn)證設(shè)備的壽命及可靠性！昆山優(yōu)力技鑫測(cè)試座

運(yùn)用出色的技術(shù)性來(lái)預(yù)測(cè)分析人工合成系統(tǒng)軟件未來(lái)的發(fā)展。這種新技術(shù)致力于防護(hù)系統(tǒng)免遭毀壞和故障產(chǎn)生的影響，包含傳統(tǒng)統(tǒng)計(jì)分析方法、負(fù)荷測(cè)試、仿真模擬和機(jī)器學(xué)習(xí)算法等預(yù)測(cè)分析。

1、半導(dǎo)體老化測(cè)試

半導(dǎo)體設(shè)備上的老化測(cè)試便是其中一種技術(shù)性，半導(dǎo)體部件（處理芯片，控制模塊等）在安裝到系統(tǒng)軟件之前都會(huì)開展故障測(cè)試。

分配實(shí)驗(yàn)，使元器件在一定電源的監(jiān)管下迫不得已親身經(jīng)歷一定的老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并剖析器件的負(fù)載能力等特性。

這類測(cè)試有利于保證系統(tǒng)軟件中應(yīng)用部件（處理芯片，控制模塊等半導(dǎo)體器件）的穩(wěn)定性。

老化測(cè)試根據(jù)模擬設(shè)備在具體使用時(shí)所受到的各種各樣地應(yīng)力、老化機(jī)器設(shè)備封裝形式和芯片缺點(diǎn)，加速機(jī)器設(shè)備具體使用期限的認(rèn)證。

同時(shí)還可以在仿真模擬環(huán)節(jié)中，造成原有故障的盡快顯出。

2、老化測(cè)試的必要性

伴隨著半導(dǎo)體電子器件技術(shù)的發(fā)展，老化測(cè)試已經(jīng)成為保證質(zhì)量的關(guān)鍵所在步驟。

除開半導(dǎo)體元器件外，PCB、IC 和Cpu構(gòu)件也都要在老化環(huán)境下開展測(cè)試。

半導(dǎo)體故障歸類

初期故障：出現(xiàn)于機(jī)器運(yùn)行的初期，初期故障發(fā)生率隨著時(shí)間推移而減少。

任意故障：所發(fā)生的時(shí)間比較長(zhǎng)，并且故障發(fā)病率也被發(fā)現(xiàn)了是相對(duì)穩(wěn)定的。

損壞故障：在部件保存期完畢的時(shí)候會(huì)發(fā)生。

半導(dǎo)體里的潛在性缺陷能通過(guò)老化測(cè)試來(lái)測(cè)試，當(dāng)元器件增加的電流地應(yīng)力和加溫并運(yùn)行時(shí)，潛在性缺陷越來(lái)越突顯。

大部分初期故障主要是因?yàn)閼?yīng)用有缺陷的生產(chǎn)制造材料及生產(chǎn)制造環(huán)節(jié)碰到錯(cuò)誤而導(dǎo)致的。

根據(jù)老化測(cè)試的元器件，僅有初期故障率低部件才可以投入市場(chǎng)。

3、老化測(cè)試的種類

老化測(cè)試全過(guò)程通常是在 125℃ 溫度中進(jìn)行，則在全部使用期限期內(nèi)能夠發(fā)放給元器件偏置電壓。

老化板相互配合IC老化測(cè)試座將半導(dǎo)體元器件放進(jìn)老化爐中。

工作電壓增加能是靜態(tài)數(shù)據(jù)的或者動(dòng)態(tài)變化，因而老化測(cè)試可以分為靜態(tài)數(shù)據(jù)老化、動(dòng)態(tài)性老化。

靜態(tài)數(shù)據(jù)老化是半導(dǎo)體器件處在非工作方式下，半導(dǎo)體器件并沒有鍵入，其特點(diǎn)是成本費(fèi)用低且程序流程簡(jiǎn)易，可是主要缺點(diǎn)老化測(cè)試機(jī)器設(shè)備里的所監(jiān)管的電源電路連接點(diǎn)不上具體數(shù)量一半。

靜態(tài)數(shù)據(jù)老化通常是環(huán)境溫度穩(wěn)定鍵入，供電系統(tǒng)及其監(jiān)管一部分都是mV和aA級(jí)別的供電系統(tǒng)，歸屬于傳統(tǒng)老化測(cè)試。

動(dòng)態(tài)性老化是半導(dǎo)體器件處在運(yùn)行狀態(tài)下，向半導(dǎo)體器件給予鍵入激勵(lì)信號(hào)，根據(jù)探測(cè)有關(guān)信號(hào)來(lái)判斷處理芯片/半導(dǎo)體器件在老化情況或是極端惡劣環(huán)境下的工作環(huán)境，特點(diǎn)是可以對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)電源電路增加更多的工作壓力和檢查額外故障，更符合半導(dǎo)體器件的具體應(yīng)用場(chǎng)景。

老化測(cè)試從生產(chǎn)流程中去除了初期故障和潛在性缺陷幾率非常高的不可信部件。

您手機(jī)、計(jì)算機(jī)或電器產(chǎn)品是不是過(guò)完質(zhì)保期就壞了？一切新品的公布發(fā)售，都面臨著永恒不變的難題——產(chǎn)品使用壽命可以用有多長(zhǎng)？品質(zhì)如何保障？談起產(chǎn)品使用壽命，總是會(huì)提及“初期無(wú)效”“致命性出現(xiàn)異常”“長(zhǎng)期性穩(wěn)定性”潛在性缺陷”等專業(yè)術(shù)語(yǔ)。

1、老化測(cè)試的基本原理老化（Burn in）指的是在一定的工作溫度下、比較長(zhǎng)的期限內(nèi)對(duì)電子器件/PCB持續(xù)增加持續(xù)高溫環(huán)境應(yīng)力，根據(jù)電-內(nèi)應(yīng)力綜合功能來(lái)加快電子器件內(nèi)部各種各樣物理學(xué)、化學(xué)反應(yīng)過(guò)程，促進(jìn)掩藏于電子器件內(nèi)部各種各樣潛在性缺陷盡早曝露，以達(dá)到去除初期無(wú)效商品的效果。根據(jù)找到造成大部分產(chǎn)品使用壽命出問題的緣故，評(píng)價(jià)和量化分析無(wú)效要素帶來(lái)的影響,為應(yīng)對(duì)無(wú)效所導(dǎo)致的產(chǎn)品使用壽命減少。

老化屬于環(huán)境應(yīng)力挑選的一種。

2、老化測(cè)試的功效1、老化測(cè)試從生產(chǎn)流程中去除了初期故障和潛在性缺陷幾率非常高的不可信部件：針對(duì)PCB/電子器件工藝技術(shù)環(huán)節(jié)中可能出現(xiàn)的一系列缺陷，如表層臟污、導(dǎo)線電焊焊接欠佳、斷面走電、單晶硅片裂痕、氧化層缺陷和局部發(fā)熱點(diǎn)等等都有良好的挑選實(shí)際效果。2、老化測(cè)試是剖析初期故障發(fā)展趨勢(shì)、提升穩(wěn)定性和測(cè)試半導(dǎo)體器件使用壽命的絕佳方式，針對(duì)無(wú)缺陷的電子器件，老化也可以使其電參數(shù)平穩(wěn)。

3、老化測(cè)試的種類老化測(cè)試的分類：靜態(tài)數(shù)據(jù)老化&動(dòng)態(tài)性老化測(cè)試試品正在做老化測(cè)試環(huán)節(jié)中工作電壓增加能是靜態(tài)數(shù)據(jù)的或者動(dòng)態(tài)變化，根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)能把老化測(cè)試可以分為靜態(tài)數(shù)據(jù)老化、動(dòng)態(tài)性老化。

什么叫靜態(tài)數(shù)據(jù)老化？靜態(tài)老化是PCB或電子器件處在非工作方式下，PCB或電子器件并沒有鍵入，其特點(diǎn)是成本費(fèi)用低且程序流程簡(jiǎn)易，可是主要缺點(diǎn)老化測(cè)試機(jī)器設(shè)備里的所監(jiān)管的電源電路連接點(diǎn)不上具體數(shù)量一半。靜態(tài)數(shù)據(jù)老化通常是環(huán)境溫度穩(wěn)定鍵入，供電系統(tǒng)及其監(jiān)管一部分都是mV和aA級(jí)別的供電系統(tǒng)，歸屬于傳統(tǒng)老化測(cè)試。

什么是動(dòng)態(tài)老化？動(dòng)態(tài)性老化是PCB或電子器件處在運(yùn)行狀態(tài)下，向半導(dǎo)體器件給予鍵入激勵(lì)信號(hào)，根據(jù)探測(cè)有關(guān)信號(hào)來(lái)判斷PCB或電子器件在老化情況或是極端惡劣環(huán)境下的工作環(huán)境，特點(diǎn)是可以對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)電源電路增加更多的工作壓力和檢查額外故障，更符合PCB或電子器件的具體應(yīng)用場(chǎng)景。

4、老化測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)方法迅速紫外線老化 QUV Weathering：GB/T 14522-2008、GB/T 14522氙氣燈老化 Xenon-Arc Weathering：GB/T 16422.2-2014、 GB/T 16259-2008碳弧燈老化：Carbon-Arc Weathering GB/T、16422.4-2014活性氧老化 Ozone Aging：GB/T 7762-2014、 GB/T 13642-2015耐溫濕度老化 Temperature and Humidity

昆山優(yōu)力技鑫機(jī)械是一家集生產(chǎn)加工、經(jīng)銷批發(fā)測(cè)試座的企業(yè)，專注于：測(cè)試座、振蕩器測(cè)試座、傳感器測(cè)試座、老化測(cè)試座、燒錄座、晶振測(cè)試座、IC測(cè)試座、BGA測(cè)試座、QFN測(cè)試座等測(cè)試座領(lǐng)域。