老化測(cè)試座為什么IC出廠之前都要做加速老化測(cè)試呀？

伴隨著芯片進(jìn)到汽車(chē)、云計(jì)算技術(shù)和工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)市場(chǎng)，IC穩(wěn)定性也成了開(kāi)發(fā)者關(guān)注的重點(diǎn)，事實(shí)上，隨著時(shí)間推移，芯片達(dá)到目標(biāo)的功效將變得更加艱難。

以往，為手機(jī)和電腦定制的芯片還可以在性能卓越下正常啟動(dòng)2到4年，兩至四年后芯片作用逐漸降低。

#老化測(cè)試座 但是隨著芯片進(jìn)到新市場(chǎng)和過(guò)去不健全的電子設(shè)備市場(chǎng)，這將不會(huì)是一個(gè)簡(jiǎn)單的問(wèn)題。

每一個(gè)終端設(shè)備市場(chǎng)都有著不同的要求，對(duì)每一個(gè)終端設(shè)備市場(chǎng)都有著不同的要求IC操作方法條件也不盡相同。芯片使用方法條件對(duì)老化和安全隱患有更高的危害。危害芯片品質(zhì)的影響因素變得更多。PCB當(dāng)已經(jīng)知道比較好的芯片與其它芯片一起外包裝時(shí)，特性很有可能會(huì)有不同。

芯片從頭至尾都是在運(yùn)作，IC內(nèi)部結(jié)構(gòu)控制模塊一直在加溫，造成老化加速，很有可能會(huì)引發(fā)各種各樣不明難題。

因而，芯片設(shè)計(jì)創(chuàng)意公司需在芯片在出廠時(shí)進(jìn)行芯片加快老化測(cè)試（HAST）然后點(diǎn)擊檢驗(yàn)更加好的良片進(jìn)到市場(chǎng)。

昆山優(yōu)力技鑫2005年開(kāi)始與日本MIS合作在大陸與臺(tái)灣銷(xiāo)售世界最好的晶振測(cè)試座，為客戶(hù)提供多種規(guī)格常規(guī)化測(cè)試座產(chǎn)品，同時(shí)為滿(mǎn)足特殊需要，為客戶(hù)定制客制化測(cè)試座產(chǎn)品，與此同時(shí)自己生產(chǎn)高精度檢測(cè)治具，產(chǎn)品回銷(xiāo)日本，目前專(zhuān)注MEMS微機(jī)電測(cè)試座開(kāi)發(fā)應(yīng)用。我公司也可依客戶(hù)指定、設(shè)計(jì)、制造、石英振蕩器測(cè)試座等。